四元數數控
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深圳市四元數數控技術有限公司
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機器視覺檢系統檢測手機外殼Logo

產品詳情
手機外殼Logo表面的缺陷檢測,檢測區域包含果實和葉子兩部分;
常見缺陷:
特殊缺陷:
項目難點:
手機LOGO屬于高亮、鏡面金屬材質;
細微的劃傷、凹坑在傳統光學下,會被強光遮掩掉;
解決方案:
定制柵格光學系統,柵格間距0.01mm;
任何在LOGO結構上有輕微變化的缺陷都可呈現出來;